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检测项目：
温度变化试验,湿热试验,电子数显器的性能,通讯接口,圆弧内测量爪合并宽度的实际偏差及圆弧内测量面的平行度,数显卡尺,电子数显器性能,相互作用,防尘防水试验,外观,测量面的表面粗糙度,平面度、平行度及合并间隙,圆弧内测量爪合并宽度的实际偏差及其圆弧内测量面的平行度,标志与包装,数显卡尺检定校准,两刀口内量爪相对平面间的间隙,两外测量面的合并间隙,两测量爪伸出长度差,刀口形内测量爪的尺寸偏差,刀口形内测量爪的平行度,响应速度,圆弧形内测量爪尺寸偏差,圆弧形内测量爪的平行度,外测量示值误差,外测量面的平面度,工作电流,抗电磁干扰实验,抗静电干扰实验,数值漂移,测台示值误差,测深示值误差,测量面的硬度,温度变化实验,湿热实验,重复性,防尘、防水实验,外测量面的平行度,全部项目,电子数显卡尺检定校准,*大允许误差
检测标准：
1、 通用卡尺检定规程JJG30
2、JJG30 通用卡尺检定规程
3、JJG30-2012 通用卡尺检定规程
4、DB32/T186-2015F08911
5、GB/T 21389-2008 游标、带表和数显卡尺 GB/T 21389-2008
6、GB/T 21389-2008 游标、带表和数显卡尺 6.1
7、JJG 30 通用卡尺检定规程
8、GB/T21389-2008 游标、带表和数显卡尺 8.9
9、GB/T 21388-2008 游标、带表和数显深度卡尺
10、DB32/T186-2015F09123